Zapraszamy do wzięcia udziału w seminarium pt.: "High-End Scanning Electron Microscopy", którego organizatorem jest firma ZEISS. Wydarzenie poświęcone będzie najnowszym rozwiązaniom technicznym w zakresie skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM).
Seminarium zostanie poprzedzone krótkimi wystąpieniami tematycznymi pracowników CNBM i WFiA. Ma ono charakter otwarty i roboczy, dlatego serdecznie zachęcamy wszystkich pracowników oraz doktorantów zainteresowanych metodą SEM do udziału.
SZCZEGÓŁOWY PROGRAM SEMINARIUM
We kindly invite you to a scientific seminar "High-End Scanning Electron Microscopy" organized by ZEISS, which will take place on Wednesday, February 12, at the Faculty of Physics and Astronomy, Adam Mickiewicz University. The event will focus on the latest technical advancements in scanning electron microscopy (SEM).
The seminar will be preceded by short thematic presentations by CNBM and WFiA staff members. It is an open and working meeting, so we warmly encourage all faculty members and PhD students interested in SEM methods to participate.
Date: Wednesday, February 12, at 10:00 AM
Venue: Collegium Physicum, Room 16 (Faculty Council Room, Main Office)